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| 徳島文理大学短期大学部 |
| 科目番号 | 30007 | 担当教員名 | 多田 哲生 | 単位 | 2単位 |
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| 科目群 | 専門 | 必修・選択 | 選択 | 開講期 | 後期 | 対象年次 | 1,2,3年 |
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| 授業概要 |
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| 授業概要：エレクトロニクス製品の基幹部品であるＬＳＩ、半導体は高機能、高集積となっている。それらが長期間、安定動作することが重要である。本研究では、ＬＳＩや半導体の信頼性に関する最新手法、信頼性データの統計的解析を解説する。そして、最新のＬＳＩに適用されている信頼性技術を論じる。 到達目標：学会発表同等レベルの論文作成が可能となること |
| 到達目標 |
| 授業計画 | 授業形態 | 授業時間外学習 | |
|---|---|---|---|
| 【1】 | 半導体の信頼性理論（信頼性、信頼度） | プリント、資料を配付して行う。適宜、課題を与え、その報告を発表させる。 内容の理解度を確認するために、「品質管理検定」試験問題を適宜解く。 | |
| 【2】 | 半導体の信頼性理論（故障率） | ||
| 【3】 | ワイブル分布 | ||
| 【4】 | バスタブ曲線 | ||
| 【5】 | 故障期間と故障傾向 | ||
| 【6】 | 信頼性試験と加速係数 | ||
| 【7】 | 寿命推定方法 | ||
| 【8】 | 長期信頼性試験法 | ||
| 【9】 | 加速試験の原理と寿命試験法 | ||
| 【10】 | 加速モデル | ||
| 【11】 | 温度／電圧加速モデル | ||
| 【12】 | ホットキャリアによる劣化 | ||
| 【13】 | ＴＤＤＢによる劣化 | ||
| 【14】 | エレクトロマイグレーションによる劣化 | ||
| 【15】 | 先端ＬＳＩの故障解析 | ||
| 評価方法 |
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| 課題の報告内容や検定試験問題の正解率を含め、総合的に評価する。 |
| 教科書 |
| なし |
| 参考図書 |
| 「信頼性技術入門」（小山 健、日本規格協会、2233円）、「ＦＭＥＡ手法と実践事例」（小野寺 勝重、日科技連、3800円） |
| 備考 |
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